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用TEOSPECVD氧化硅做掩蔽层选择性生长金刚石薄膜
引用本文:何奕骅 孙卓. 用TEOSPECVD氧化硅做掩蔽层选择性生长金刚石薄膜[J]. 华东师范大学学报(自然科学版), 1995, 0(4): 44-48
作者姓名:何奕骅 孙卓
作者单位:华东师范大学电子系,华东师范大学物理系,上海冶金所信息功能材料国家重点实验室
摘    要:本文研究了在HF—CVD法中,衬底温度Ts对PETEOS(等离子体增强正硅酸乙酯)氧化硅—硅衬底上选择性生长金刚石薄膜的影响。结果表明:Ts变化影响PETEOS氧化硅掩蔽层区域和硅表面金刚石晶粒成核密度。Ts较低时(750—820℃),PETEOS氧化硅区域成核密度远小于裸露硅表面;随Ts升高(>820℃),氧化硅区域成核密度增加很快;当Ts>850℃时,氧化硅区域成核密度超过硅表面。

关 键 词:金刚石 选择性 PETEOS氧化硅 掩蔽层

Selective deposition of diamond films on silicon wafer with TEOSPECVD SiO_2 masks by tungsten filament chemical vapor deposition
He Yihua, XuChunfang, Fan Huanzhang. Selective deposition of diamond films on silicon wafer with TEOSPECVD SiO_2 masks by tungsten filament chemical vapor deposition[J]. Journal of East China Normal University(Natural Science), 1995, 0(4): 44-48
Authors:He Yihua   XuChunfang   Fan Huanzhang
Abstract:
Keywords:diamond selection PETEOS SiO_2 mask nucleation density substrate temperature
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