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铜纳米颗粒对氧化铪/氧化锌双介质层阻变特性的影响
引用本文:陈 帅,周海芳,赖云锋.铜纳米颗粒对氧化铪/氧化锌双介质层阻变特性的影响[J].福州大学学报(自然科学版),2019,47(4):472-476.
作者姓名:陈 帅  周海芳  赖云锋
作者单位:福州大学物理与信息工程学院,福建 福州 350108,福州大学物理与信息工程学院,福建 福州 350108,福州大学物理与信息工程学院,福建 福州 350108
摘    要:通过微电子加工工艺制备了具有Ti/HfOx:Cu NPs/ZnO/ITO结构的阻变存储器,研究铜纳米颗粒对器件阻变性能的影响. 研究表明,铜纳米颗粒不仅使器件操作电压减小、并且更加均一,而且增大了器件高低阻态的电阻值比(开关比),高、低阻态电阻值更加稳定,表现出优异的耐擦写特性. 纳米颗粒的引入还使低阻态的导电由普尔-法兰克发射机制主导转变为欧姆导电细丝主导. 进一步研究发现,纳米颗粒增强了局部电场,不仅保证了较小电压下可产生更多的氧空位,还限定了导电细丝的位置. 此外,铜纳米颗粒有利于降低器件操作电压并提高其均一性,有助于提高阻态电阻值的稳定性.

关 键 词:阻变存储器  氧化铪基  纳米颗粒  开关比  均一性

Effect of Cu nanoparticles on resistive switching characteristics of HfOx/ZnO bilayer
CHEN Shuai,ZHOU Haifang and LAI Yunfeng.Effect of Cu nanoparticles on resistive switching characteristics of HfOx/ZnO bilayer[J].Journal of Fuzhou University(Natural Science Edition),2019,47(4):472-476.
Authors:CHEN Shuai  ZHOU Haifang and LAI Yunfeng
Abstract:
Keywords:
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