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| 以第一性原理研究单层二硫化钼压电特性 | |
| 作者姓名： | 许婧 罗静 李明林 |
| 作者单位： | 福州大学机械工程及自动化学院,福建 福州 350108,厦门钨业股份有限公司,福建 厦门 361000,福州大学机械工程及自动化学院,福建 福州 350108 |
| 摘 要： | 基于密度泛函第一性原理计算方法,分别采用LDA、PBE和PW91三种交换关联泛函,研究半导体性单层二硫化钼的压电特性. 针对三种交换关联泛函,研究获得二硫化钼晶格结构参数、基本电学特性、材料弹性常数和压电系数. 结果显示基于ＬＤＡ 泛函获得的带隙更接近于实验结果,而基于PBE和PW91泛函获得的晶格结构参数、杨氏模量和压电系数较为一致,且更接近于实验结果. |
| 关 键 词： | 单层二硫化钼 压电特性 第一性原理 交换关联泛函 |
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