| 富钙CaGe:YIG薄膜铁磁共振线宽随外场角度的变化 |
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| 引用本文： | 韩志全.富钙CaGe:YIG薄膜铁磁共振线宽随外场角度的变化[J].科学通报,1989,34(23):1785-1785. |
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| 作者姓名： | 韩志全 |
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| 作者单位： | 中国西南应用磁学研究所
(韩志全)，美国俄亥俄州立大学物理系
(P. E. Wigen)，意大利固体电子研究所(P. De Gasperis) |
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| 摘 要： | 铁磁共振线宽关系到材料的微波损耗。富钙CaGe:YIG薄膜具有磁矩的异常补偿点和电导率的光效应等有趣特性。因此研究其共振线宽随外磁场方向的变化是很有必要的。曾有人对Ca:YIG薄膜的线宽与外场方向的关系用涡流机制进行过解释。这一损耗机制在Ca:YIG薄膜中也为线宽随面积而增加的观测结果所证实。通常认为,Fe~(4+)快弛豫离子(与Ca~(2+)或电价平衡)是Ca:YIG薄膜线宽的一个主要来源。有人以过腐蚀减薄的方法,研究了Ca:YIG薄膜的线宽与厚度的关系,提出了在样品中存在有沿厚度方向的Ca浓度梯度的问
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