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不同制备方法对薄膜性能的影响
引用本文:王华清,卢维强,郝孟尧,薛唯. 不同制备方法对薄膜性能的影响[J]. 北京理工大学学报, 2008, 28(10): 930-933
作者姓名:王华清  卢维强  郝孟尧  薛唯
作者单位:北京理工大学,信息科学技术学院光电工程系,北京,100081;中国联通有限公司,北京分公司,北京,100038
摘    要:采用离子束反应溅射、等离子体辅助、射频离子源辅助、Kaufman离子源辅助比较不同制备方法对薄膜性能的影响. 镀制了Ta2O5、SiO2两种材料的单层膜及由它们组成的多层膜. 结果表明:离子束反应溅射能够制备出质量最好的激光膜,抗激光损伤阈值达到17.39J·cm-2,等离子体辅助和射频离子源辅助制备的膜层结构致密、散射比和吸收比小,Kaufman离子辅助制备的膜层各项性能指标都相对较低.

关 键 词:薄膜特性  散射  吸收  应力
收稿时间:2008-04-24

A Study on Influence of Thin Films Through Different Processes of Deposition
WANG Hua-qing,LU Wei-qiang,HAO Meng-yao and XUE Wei. A Study on Influence of Thin Films Through Different Processes of Deposition[J]. Journal of Beijing Institute of Technology(Natural Science Edition), 2008, 28(10): 930-933
Authors:WANG Hua-qing  LU Wei-qiang  HAO Meng-yao  XUE Wei
Affiliation:Department of Optical Engineering, School of Information Science and Technology, Beijing Institute of Technology, Beijing 100081, China;Department of Optical Engineering, School of Information Science and Technology, Beijing Institute of Technology, Beijing 100081, China;China Unicom Beijing Branch, Beijing 100038, China;Department of Optical Engineering, School of Information Science and Technology, Beijing Institute of Technology, Beijing 100081, China
Abstract:
Keywords:thin films properties  scattering  absorb  stress
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