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用蒙特卡罗方法研究双层重金属与有机半导体界面的X射线剂量增强
引用本文:董文斌,赵广义,赵宝奎,周银行,马玉刚.用蒙特卡罗方法研究双层重金属与有机半导体界面的X射线剂量增强[J].吉林大学学报(理学版),2008,46(3):524-527.
作者姓名:董文斌  赵广义  赵宝奎  周银行  马玉刚
作者单位:吉林大学,物理学院,长春,130021;吉林大学,物理学院,长春,130021;吉林大学,物理学院,长春,130021;吉林大学,物理学院,长春,130021;吉林大学,物理学院,长春,130021
基金项目:国家基础科学人才培养项目
摘    要:用蒙特卡罗方法计算不同几何结构的双层重金属对有机半导体界面产生的剂量增强系数, 结果表明, X射线在金-酞菁铜-金界面产生与金-酞菁铜界面相似但更大的剂量增强. 当半导体层-酞菁铜厚度相同(均为2 μm)时, 厚度为4 μm比厚度为2 μm的金产生更大的剂量增强; 当金的厚度相同(均为2 μm)时, 厚度为1 μm比厚度为2 μm的酞菁铜产生更大的剂量增强. 

关 键 词:X射线  有机半导体  剂量增强系数  界面
文章编号:1671-5489(2008)03-0524-04
收稿时间:2007-05-26
修稿时间:2007年5月26日

Monte-Carlo Calculation of X-ray Dose-enhancement-factor Nearby Copper-phthalocyanine Connected Two High Z Metal Interface
DONG Wen-bin,ZHAO Guang-yi,ZHAO Bao-kui,ZHOU Yin-hang,MA Yu-gang.Monte-Carlo Calculation of X-ray Dose-enhancement-factor Nearby Copper-phthalocyanine Connected Two High Z Metal Interface[J].Journal of Jilin University: Sci Ed,2008,46(3):524-527.
Authors:DONG Wen-bin  ZHAO Guang-yi  ZHAO Bao-kui  ZHOU Yin-hang  MA Yu-gang
Institution:College of Physics, Jilin University, Changchun 130021, China
Abstract:The dose-enhancement-factors of different structure Au-CuPc-Au were calculated by Monte-Carlo method. The results show the dose-enhancement-factors of Au-CuPc-Au are simailer to that of Au-CuPc, but it has larger dose-enhancement-factors than those of Au-CuPc. Under the circumstance (the thickness of CuPc is 2 μm), the dose-enhancement-factor of 4 μm gold is larger than that of 2 μm gold. Under the circumstance (the thickness of gold is 2 μm), the dose-enhancement-factor of 1 μm CuPc is larger than that of 2 μm CuPc.
Keywords:X-ray  organic semiconductor  dose-enhancement-factor  interface
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