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| 可简化并行处理器设计的JTAG测试 | |
| 引用本文： | 梅杓春,王勇,高翔.可简化并行处理器设计的JTAG测试[J].南京邮电大学学报(自然科学版),1997(4). |
| 作者姓名： | 梅杓春 王勇 高翔 |
| 作者单位： | 南京邮电学院计算中心，南京邮电学院计算机科学与技术系 |
| 摘 要： | ＪＴＡＧ（联合测试行动组织）边界扫描是芯片和系统设计的重要组成部分。文中介绍ＪＴＡＧ边界扫描的概念、技术特点，以及在芯片功能测试、系统诊断、仿真、性能分析和导通测试方面的应用。 |
| 关 键 词： | 并行处理机，边界扫描，计算机仿真 |
JTAG Test of Simplifiable Parallel Processor Design |
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| Abstract: | |
| Keywords: | Parallel processors Boundary scan Computer simulation |
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