| 单片微机在平板载荷试验中的应用 |
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| 引用本文： | 邢亮.单片微机在平板载荷试验中的应用[J].北京工商大学学报(自然科学版),2009,27(5):26-29. |
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| 作者姓名： | 邢亮 |
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| 作者单位： | 中铁第五勘察设计院集团有限公司,北京,102600 |
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| 摘 要： | 对传统K30平板载荷试验仪存在的不足进行了分析,根据其测试原理,利用单片微机技术设计了一套K30平板载荷试验测试系统,并提出了利用最小二乘法拟合二次曲线计算地基系数K30,以及对计算结果进行修正的方法.
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| 关 键 词： | 地基系数K30 单片微机 平板载荷试验 |
APPLICATION OF SINGLECHIP IN PLATE LOADING TEST |
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| XING Liang.APPLICATION OF SINGLECHIP IN PLATE LOADING TEST[J].Journal of Beijing Technology and Business University:Natural Science Edition,2009,27(5):26-29. |
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| Authors: | XING Liang |
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| Institution: | XING Liang (The Fifth Survey , Design Institute Group CO.LTD.of CRCC,Beijing 102600,China) |
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| Abstract: | This article analyses the disadvantage of the traditional K30 plate loading tester.According the testing theory,design the test system of K30 plate loading test using Singlechip technology.In addition,it proposes the method of calulating foundation coefficient K30 using least square method to fitting conics and amendment the result. |
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| Keywords: | foundation coefficient K30 SingleChip plate loading test |
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