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PCD—1型晶体管热疲劳试验台

作者姓名：	徐光华

摘要：	PCD—1型晶体管热疲劳试验台是杭州西湖电讯厂在分析研究国外同类设备的基础上研制而成的一种半导体器件可靠性试验专用设备,具有多种试验功能,比国外同类设备增加了控制试验管主要应力为目的的温控
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