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| PCD—1型晶体管热疲劳试验台 | |
| 引用本文： | 徐光华.PCD—1型晶体管热疲劳试验台[J].今日科技,1984(4). |
| 作者姓名： | 徐光华 |
| 摘 要： | PCD—1型晶体管热疲劳试验台是杭州西湖电讯厂在分析研究国外同类设备的基础上研制而成的一种半导体器件可靠性试验专用设备,具有多种试验功能,比国外同类设备增加了控制试验管主要应力为目的的温控 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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