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| 基于信息熵的PCB金手指表面镀层缺陷研究 | |
| 作者单位： | ;1.聊城大学东昌学院 |
| 摘 要： | PCB的金手指缺陷直接影响电气设备的性能和稳定性。为了克服传统的图像检测PCB金手指表面镀层缺陷,本文提出了利用计算金手指图像的信息熵来检测其表面镀层缺陷,并讨论了两种信息熵检测算法。一是针对金手指表面露铜、氧化等缺陷,基于颜色变化的信息熵检测算法。二是针对金手指表面划伤缺陷,基于结构变异的信息熵检测算法。测试结果表明,金手指表面图像检测能有效识别露铜、划伤等缺陷,对实际的PCB金手指在线检测有一定的指导意义。 |
| 关 键 词： | 信息熵 金手指 缺陷 PCB |
Research on Coating Defects of PCB Gold Finger Surface Based on Information Entropy |
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