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| 测试连接与电路结构化测试 | |
| 引用本文： | 王庆翔,李君.测试连接与电路结构化测试[J].科技资讯,2009(4):40-41. |
| 作者姓名： | 王庆翔 李君 |
| 作者单位： | 1. UT斯达康通讯有限公司 2. 浙江机电职业技术学院,浙江杭州,310053 |
| 摘 要： | 本文讨论三种主要的电路结构化测试连接方式;来自产品上市时间、质量、成本的压力,使得工业界期望将基于边界扫描的虚拟测试连接建立的方式、基于数控拖动及继电器阵列的物理测试连接方式综合运用于结构化测试之中;相应地,未来结构化测试系统架构需要作出变革以适应这些要求。 |
| 关 键 词： | 测试连接 电路结构化测试 边界扫描 继电器阵列 |
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