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乙酰丙酮镁对有机场效应晶体管迁移率的影响
作者姓名:姚闯  徐新军  马明超  李立东
作者单位:北京科技大学材料科学与工程学院
基金项目:高等学校博士学科点专项科研基金资助项目(20130006110007)
摘    要:载流子迁移率是有机场效应晶体管(OFETs)的重要参数,直接决定了OFETs的功率和工作频率,对电子纸和射频标签等实际应用起到至关重要的作用。为了提高以聚(3-己基噻吩)(P3HT))和聚苯乙烯(PS)的混合物作为半导体材料的OFETs的载流子迁移率,提出利用结晶的乙酰丙酮镁来诱导P3HT在界面处结晶的方法。研究了使用不同量的乙酰丙酮镁掺杂的热交联聚乙烯基苯酚(CPVP)作为介电材料时OFETs性能的变化。结果表明,当在常用介电材料CPVP中掺杂适量乙酰丙酮镁(质量分数为0.6%)作为介电层时,器件的载流子迁移率达到最大(2.88×10-2 cm2/(V·s)),是单纯使用CPVP介电层时迁移率的11倍。

关 键 词:有机场效应晶体管  介电层  乙酰丙酮镁  迁移率
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