首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     


X-ray research of polycrystals. The methods for approximation at determination of the real width of X-ray interferentional lines with the application of a standard-sample
Authors:N. A. Erokhov  J. P. Vyrodov  G. V. Davydov
Affiliation:(1) Pedagogical State Institute, G-435 Moskva, USSR
Abstract:Vcyycyvcyocydcyycy Dcyacyncyacy fcyocyrcymcyucylcyacy dcylcyyacy ocypcyrcyiecydcyiecylcyiecyncyicyyacy icyscytcyicyncyncyocyjcy shcyicyrcyicyncyycy rcyiecyncytcygcyiecyncyocyvcyscykcyicykhcy lcyicyncyicyjcy icy pcyocylcyucychcyiecyncyacy scyvcyyacyzcysoftcy mcyiecyzhcydcyucy fcyicyzcyicychcyiecyscykcyocyjcy shcyicyrcyicyncyocyjcy icy ucyshcyicyrcyiecyncyicyyacymcyicy, ocybcyucyscylcyocyvcylcyiecyncyncyycymcyicy dcyicyscypcyiecyrcyscyncyocyscytcysoftcyyucy bcylcyocykcyocyvcy icy ncyacypcyrcyyacyzhcyiecyncyicyyacymcyicy 2 rcyocydcyacy.
Keywords:
本文献已被 SpringerLink 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号