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像素碲锌镉探测器低噪声读出芯片设计与测试
引用本文:罗杰,邓智,刘以农,王光祺,李红日.像素碲锌镉探测器低噪声读出芯片设计与测试[J].清华大学学报(自然科学版),2012(7):917-921.
作者姓名:罗杰  邓智  刘以农  王光祺  李红日
作者单位:清华大学工程物理系,粒子技术与辐射成像教育部重点实验室;北京滨松光子技术有限公司
基金项目:国家自然科学基金资助项目(10735060)
摘    要:为了解决像素碲锌镉探测器的高密度和低噪声读出问题,设计了一款8通道的低噪声前端读出芯片。每个通道由两级电荷灵敏前放、4阶半Gauss成形电路和输出驱动放大器组成。芯片采用了0.35μm CMOS工艺完成了流片测试,单通道的电荷增益为65~260mV/fC,成形时间调节范围为1~4μs,测得的最好等效噪声电荷为200e。连接碲锌镉探测器后测得241 Am和57 Co全能峰的能量分辨率分别为9.6%和5.9%。初步测试结果表明:芯片的各项功能都正常,噪声的实测结果与仿真结果比较吻合,但探测器的漏电流以及输入端寄生电容使得其电子学噪声显著增加。

关 键 词:碲锌镉  室温半导体探测器  低噪声  专用集成电路(ASIC)

Design and test results of a low-noise readout ASIC for pixelated CdZnTe detectors
LUO Jie,DENG Zhi,LIU Yinong,WANG Guangqi,LI Hongri.Design and test results of a low-noise readout ASIC for pixelated CdZnTe detectors[J].Journal of Tsinghua University(Science and Technology),2012(7):917-921.
Authors:LUO Jie  DENG Zhi  LIU Yinong  WANG Guangqi  LI Hongri
Institution:1.Key Laboratory of Particle and Radiation Imaging of Ministry of Education,Department of Engineering Physics, Tsinghua University,Beijing 100084,China; 2.Beijing Hamamatsu Photon Techniques Co.Ltd., Beijing 100070,China)
Abstract:
Keywords:
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