| ICP-AES测定高纯钨中杂质元素 |
| |
| 引用本文： | 范健,黄进宇,邹玫玫,裘立奋,王吉申,杜方才. ICP-AES测定高纯钨中杂质元素[J]. 中南大学学报(自然科学版), 1999, 0(1) |
| |
| 作者姓名： | 范健 黄进宇 邹玫玫 裘立奋 王吉申 杜方才 |
| |
| 作者单位： | 中南工业大学测试分析中心，株洲硬质合金厂测试分析中心 |
| |
| 摘 要： | 采用电感耦合等离子体原子发射光谱法（即ＩＣＰＡＥＳ法）测定钨中的１４种杂质元素，并对１９种微量元素的基体效应和光谱干扰进行了研究，建立了ＩＣＰＡＥＳ与基体分离及干扰系数校正相结合的方法．此法解决了钨在分析测定时的基体干扰问题，能快速、准确、同时测定高纯钨中１４种微量元素，回收率高于９０％，相对标准偏差为１％～６％．它为钨产品的检测提供了新的切实可行的分析手段．
|
| 关 键 词： | 微量元素；钨；基体效应；光谱干扰；沉淀分离；干扰系数校正；电感耦合等离子体原子发射光谱 |
DETERMINATION OF TRACE ELEMENTS IN HIGHER PURE TUNGSTEN BY ICP AES |
| |
| Fan Jian Huang Jinyu Zou Meimei. DETERMINATION OF TRACE ELEMENTS IN HIGHER PURE TUNGSTEN BY ICP AES[J]. Journal of Central South University:Science and Technology, 1999, 0(1) |
| |
| Authors: | Fan Jian Huang Jinyu Zou Meimei |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | trace element tungsten matrix effect spectral interference precipitation seperation interference factor correction ICP AES |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ |
