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| 计量光栅测量技术研究 | |
| 引用本文： | 刘广黔.计量光栅测量技术研究[J].广东科技,2008(12):190-191. |
| 作者姓名： | 刘广黔 |
| 作者单位： | 贵阳新豪光电有限公司技术开发部 |
| 摘 要： | 计量光栅形成的莫尔条纹对位移的光学放大作用，在位移精确测量领域有很高的工程价值。光栅线位移传感器得到很大发展，成为该领域关键技术。 |
| 关 键 词： | 计量光栅 莫尔条纹 光学放大 光栅线位移传感器 |
| 本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录！ | |
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