|
|||||
|
|
| 研究简讯 | |
| 摘 要： | 金属诱导下半导体表面再构的普适电子计数模型晶格再构是半导体表面一个最普遍存在的现象,它导致了表面具有各种与体内不同的物理性质。Pashley和Chadi在20世纪80年代末分别提出了电子计数模型,这些模型在确定清洁半导体表面再构的研究中取得了成功,并被进一步推广到研究表面缺 |
| 关 键 词： | MgB2超导体 高分子聚合物 临界电流密度 选择性氧化 电子计数 表面再构 金属诱导 各向异性 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |
|
||||||||||
|
||||||||||
|
||||||||||
|
|
|
|
| 设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏 |
|
Copyright©北京勤云科技发展有限公司 京ICP备09084417号 |