超大规模集成电路设计中漏泄功耗的最小化和开发利用 |
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引用本文: | 贾红书.超大规模集成电路设计中漏泄功耗的最小化和开发利用[J].国外科技新书评介,2010(6):15-15. |
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作者姓名: | 贾红书 |
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作者单位: | 中国科学院理化技术研究所 |
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摘 要: | 超大规模集成电路(VLSI)的耗电量一直以惊人的速度增长。随着耗电量以及对便携式/手持式电子产品需求的不断增加,功率消耗成为VLSI电路设计中的主要问题。以往的电路设计中,动态(开关)电源是IC总功耗的主体,目前漏泄功耗已经成为在VLSI电路总功率消耗的重要组成部分。因此,降低漏泄功率对便携式/如手机及PDA的手持式电子产品尤其重要。
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关 键 词: | 超大规模集成电路 集成电路设计 开发利用 功耗 漏泄 手持式电子产品 最小化 VLSI电路 |
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