| 一种测量界面分子基团取向的新方法 |
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| 作者姓名： | 吕荣 干为 王鸿飞 |
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| 作者单位： | 1. 中国科学院化学研究所分子科学中心,分子反应动力学国家重点实验室,北京,100080;中国科学院研究生院,北京,100039
2. 中国科学院化学研究所分子科学中心,分子反应动力学国家重点实验室,北京,100080 |
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| 基金项目： | 本工作为国家自然科学基金(批准号: 29873059, 20274055)、国家重点基础研究发展规划(批准号: G1999075305)资助项目和中国科学院创新方向性项目(批准号: KJCXZ-Hz-05). |
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| 摘 要： | 在界面和频振动光谱的研究中, 现有测量分子基团界面取向角的方法是通过测量基团和频振动光谱峰在不同的偏振方向上的强度比来实现的. 由于在一些偏振方向上和频信号峰强度较小, 测量的相对误差很大, 从而往往无法得到准确的取向参数值, 因此计算出来的取向角精度很差. 通过分析界面和频光谱强度与取向角的基本关系, 提出使用和频光谱强度偏振零位偏角的方法来测量化学基团的界面取向参数. 准确测量零位偏角的方法简单而且容易实现, 从而可以大大提高界面取向的测量精度. 测量出在空气/甲醇界面上甲基的取向角为(31.8 ± 2.4)°, 精确度较文献中报道的小于42°大大提高. 这一方法为界面化学键或化学基团的取向研究提供了可靠的实验分析手段.
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| 关 键 词： | 界面和频振动光谱 零位偏角 界面取向角 甲基 甲醇 取向参数 |
| 收稿时间： | 2003-04-16 |
| 修稿时间： | 2003-04-16 |
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