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| 一种针对门替换的电路老化关键门识别方法 | |
| 摘 要： | 为解决现有针对门替换方法的关键门识别方法中存在不可防护的关键门问题,文章提出一种考虑可防护性的关键门识别方法。首先利用现有老化分析流程对电路进行老化预测,得到保护路径集合;然后对保护路径上的门进行可防护性分析,并在可防护性约束下识别关键门。基于ISCAS85基准电路和45nm晶体管模型的实验结果,与现有识别方法相比,该方案的关键门实现了全防护,平均时延退化改善率提高到3倍多,达到33.24%。 |
Circuit aging critical gates identification for gate replacement |
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