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| 基于紧致遗传算法的N次检测测试集压缩 | |
| 引用本文： | 宋波.基于紧致遗传算法的N次检测测试集压缩[J].牡丹江师范学院学报(自然科学版),2012(3):6-7. |
| 作者姓名： | 宋波 |
| 作者单位： | 平度市开发区高级中学,山东平度,266700 |
| 摘 要： | N次检测是一种新兴的面向缺陷的集成电路生产测试技术,它通过对故障的多次测试来提高对电路缺陷的测试覆盖率.N次检测技术所面临的主要困难是其所需测试矢量数目过多,导致测试时间长,成本高.为此,提出一种基于紧致遗传算法的N次检测测试集压缩方法,可以有效降低计算花费,非常适合处理测试矢量规模较大的N次检测的测试集压缩问题.实验表明,该方法能够在有效的时间内得到更小的测试集. |
| 关 键 词： | N次检测 测试集压缩 紧致遗传算法 |
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