8-mol%钇稳定氧化锆放电等离子烧结体的电学特性研究 |
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作者姓名: | 简家文 常爱民 杨邦朝 张益康 |
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作者单位: | 1. 宁波大学信息科学与工程学院,宁波,315211;电子科技大学微电子与固体电子学院,成都,610054 2. 中国科学院新疆应用技术研究所,乌鲁木齐,830011 3. 电子科技大学微电子与固体电子学院,成都,610054 4. 康达(成都)电子有限公司,成都,61001 |
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基金项目: | 科学技术部国家级火炬计划项目资助(批准号:2001EB001131) |
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摘 要: | 采用等离子烧结技术, 在1350℃10 min所烧结的8-mol%钇稳氧化锆样品(SPS)与常规1450℃4 h烧结样品(CS)相比, SPS样品致密度已达到99%. 通过X射线衍射(XRD)对两种样品分析其结构均为立方体(Fm3m), 根据XRD谱(111)峰算得SPS样品的晶粒大小D111为154 nm, CS样品的D111大于1 μm. 用ZVIEW软件对不同测试温度下所得交流阻抗测试结果进行了拟合处理, 研究结果表明: SPS样品的离子电导率不同于CS样品; 在400~800℃温度范围内, 放电等离子烧结样品的活化能为91 kJ·mol8722;1, 与常规烧结样品的96 kJ·mol8722;1相一致, 这说明SPS烧结体的导电机理与常规烧结体基本一致.
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关 键 词: | 放电等离子烧结 交流阻抗 钇稳定氧化锆 |
收稿时间: | 2004-02-24 |
修稿时间: | 2004-07-02 |
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