| 片上电感的研究 |
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| 引用本文： | 潘武,赵伟.片上电感的研究[J].重庆邮电学院学报(自然科学版),2006,18(1):17-21. |
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| 作者姓名： | 潘武 赵伟 |
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| 作者单位： | 重庆邮电学院微光机电系统研究所,重庆400065 |
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| 基金项目： | 重庆市教委科学技术项目（020508） |
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| 摘 要： | 片上电感是射频集成电路中必不可少的元件。通过讨论了影响电感品质因数恶化的因素，如趋肤效应、邻近效应和涡流损耗等，对片上电感的单П和双П集总参数模型进行了分析比较，分析了多种优化方案，并提出了提高片上电感Q值的研究方向。
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| 关 键 词： | 射频集成电路 片上电感 邻近效应 趋肤效应 涡流损耗 |
| 文章编号： | 1004-5694（2006）01-0017-05 |
| 收稿时间： | 2005-04-18 |
| 修稿时间： | 2005-11-16 |
An investigation on chip inductors |
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| PAN Wu, ZHAO Wei.An investigation on chip inductors[J].Journal of Chongqing University of Posts and Telecommunications(Natural Sciences Edition),2006,18(1):17-21. |
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| Authors: | PAN Wu ZHAO Wei |
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| Institution: | Chongqing University of Posts and Telecommunications, Institute of MOEMS ,Chongqing 400065, P. R. China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | RFICs on chip inductor proximity effect skin effect eddy current loss |
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