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X光电子能谱(XPS)对CdSe/Ti光电极表面组成及结构的研究
引用本文:张长拴,肖绪瑞. X光电子能谱(XPS)对CdSe/Ti光电极表面组成及结构的研究[J]. 河南科学, 1987, 0(3)
作者姓名:张长拴  肖绪瑞
作者单位:郑州大学化学系,中科院北京感光化学研究所
摘    要:本文利用558型X光电子能谱(XPS)对CdSe/Ti光电极进行了研究,详细考察了在不同条件下制备的电极表面组成及结构特征,并采用Ar~+溅射剥蚀的方法,对表面氧化膜作了深度分析,结果表明:在500℃空气中烧结制成的电极,以固熔体存在的CdSe表面层有部分镉和硒被氧化,生成CdO和SeO_2,氧化层厚度约有90A。金属钛被氧化为TiO_2,约在24A深的内表层,TiO_2和Ti共存,其厚度不少于1600A 氮气中500℃烧制成的电极,镉和硒基本上不被氧化,仍以固熔体形式存在。在少量氧存在下,钛被氧化为TiO_2的厚度约有15A,据此讨论了电极制备条件对光电效应的影响,提出了一些看法。

关 键 词:X光电子能谱  光电极

STUDIES ON THE SURFACE COMPOSITION AND THE STRUCTURE OF CdSe/Ti PHOTOELECTRODE BY X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY
Zhang Changshuan,Xiao Xurui. STUDIES ON THE SURFACE COMPOSITION AND THE STRUCTURE OF CdSe/Ti PHOTOELECTRODE BY X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY[J]. Henan Science, 1987, 0(3)
Authors:Zhang Changshuan  Xiao Xurui
Affiliation:Zhang Changshuan;Xiao Xurui Department of Chemistry. Zhengzhou University Instatatute of Photographic Chemistry. Beijing
Abstract:
Keywords:X-ray Photoelectron Spectroscopy  Photoelectrode
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