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| BiTiO3单品电致疲劳裂纹扩展的原子力显微镜研究 | |
| 引用本文： | 王芳,宿彦京,何健英,乔利杰,褚武扬.BiTiO3单品电致疲劳裂纹扩展的原子力显微镜研究[J].科学通报,2005,50(20):2296-2299. |
| 作者姓名： | 王芳 宿彦京 何健英 乔利杰 褚武扬 |
| 作者单位： | 北京科技大学材料物理与化学系,北京100083 |
| 基金项目： | 致谢 本工作为国家自然科学基金（批准号：50571001）;教育部重点基金（批准号：104021）资助项目. |
| 摘 要： | 利用原子力显微镜（AFM）原位研究了BaTiO3单晶压痕裂纹电致疲劳的扩展过程，以及交变电场引起的畸变和疲劳裂纹扩展的相关性．结果表明、正负交变电场并不引是裂纹尖端电畴的交替变化。而是在裂纹周围发生随机转变．随着电场交变次数的增加，止裂裂纹重新起裂扩展。 |
| 关 键 词： | AFM 循环畴变 电致疲劳裂纹 BiTiO3 扩展性 原子力显微镜 |
| 收稿时间： | 2004-10-22 |
| 修稿时间： | 2004-10-222005-07-12 |
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