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| MF—11型NTC热敏电阻失效机理分析 | |
| 引用本文： | 梁俊文,王恩光.MF—11型NTC热敏电阻失效机理分析[J].华中理工大学学报,1993,21(2):5-9. |
| 作者姓名： | 梁俊文 王恩光 |
| 摘 要： | 对ＭＦ－１１型热敏电阻器的失效样品进行了比较系统的观测与实验分析，从中总结出其主要失效模式，认为它的主要失效机理有：阻值漂移及老化不足，电极有效面积减少，内部微裂纹的蔓延与扩展，非平衡态的转变过程，晶粒表面态的变化等，对提高产品的可靠性提出了改进建议。 |
| 关 键 词： | 热敏电阻器 失效 模式 失效机理 |
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