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| 双口RAM设计调试 | |
| 引用本文： | 关红宾.双口RAM设计调试[J].科技信息,2009(29):I0406-I0407. |
| 作者姓名： | 关红宾 |
| 作者单位： | 中国电子科技集团公司第二十研究所,陕西西安710072 |
| 摘 要： | 本文介绍双口RAM的设计调试，主要就电平的匹配，握手应答信号等方面进行设计，并针对调试中出现的问题（如器件选型不当、逻辑设计不完善、低温异常）给予分析。 |
| 关 键 词： | 双口 RAM 电平匹配 握手应答信号 |
| 本文献已被 维普 等数据库收录！ | |
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