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微通道板的寿命试验
引用本文:周旭辉,徐宗和. 微通道板的寿命试验[J]. 南京理工大学学报(自然科学版), 1990, 0(4)
作者姓名:周旭辉  徐宗和
作者单位:华东工学院光电技术系,华东工学院光电技术系
摘    要:微通道板寿命时间是微通道板在应用中的一个重要质量指标。本文论述Ⅱ代象增强器的微通道板寿命试验的方法,在研制的试验装置上进行了试验研究,得到了微通道板的增盖—板压、增盖—输出电荷的变化规律,提出了进行寿命试验的规范和估算微通道板可能的工作寿命的方法。

关 键 词:通道电子倍增器  微通道板  寿命  寿命试验  电子冲刷

Life Test of Microchannel Plates
Zhou Xuhui. Life Test of Microchannel Plates[J]. Journal of Nanjing University of Science and Technology(Nature Science), 1990, 0(4)
Authors:Zhou Xuhui
Affiliation:Department of Optical and Electronic
Abstract:
Keywords:channel electron multiplier  Micromochannel plate  life  life test  erosion of electrons
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
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