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| 数字电路可测性设计的一种故障定位方法 | |
| 作者姓名： | 潘中良 |
| 作者单位： | 华南师范大学物理系，广州 510631 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(60006002) |
| 摘 要： | 在逻辑函数ReedMuller模式的电路可测性设计方面，文章采用AND门阵列和XOR门树结构来设计电路，提出了一种设计方案，可实现任意逻辑函数的功能，而且所得电路具有通用测试集和完全可故障定位的特点。给出了进行故障定位的方法，并可把它应用于其他相关电路的可测性设计。 |
| 关 键 词： | 逻辑函数；数字电路；可测性设计；故障定位；单故障 |
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