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含有吸附络合物体系的示波分析及机理研究
引用本文:胡娟.含有吸附络合物体系的示波分析及机理研究[J].平顶山学院学报,1997(Z4).
作者姓名:胡娟
作者单位:平顶山师专化学系!平顶山,467002
基金项目:河南省教委自然科学基础研究项目基金
摘    要:In(Ⅲ)在pH=4.57的0.2mol.L-1HAc-0.4mol·L-1NaAc-0.1%V.C-0.006%HCuP溶液中,用示波计时电位法可获得良好的示波图,其切口电位Eh=0.90(VsSCE),切口高度与In(Ⅲ)浓度在8.0×10-7~1.4×10-5mol·L-1范围内成正比,检测下限可达5.0×10-7mol·L-1,测得吸附络合物组成为In(Ⅲ):铜铁试剂=1:1,条件稳定常数为5.9×103.方法应用于含铟合金轴承样品中微量铟的测定,标准偏差为0.59,回收率为98.83%,结果令人满意.

关 键 词:示波计时电位法    铜铁试剂  吸附络合物

Oscillographic Analysis and Mechanism of Solution Containing Adsorbable Complex
Hu Juan.Oscillographic Analysis and Mechanism of Solution Containing Adsorbable Complex[J].Journal of Pingdingshan University,1997(Z4).
Authors:Hu Juan
Abstract:
Keywords:oscillographic chronopotentiometry  indium  cupferrom  adsorbable complex
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
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