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极化电压与铁电场效应晶体管漏极电流的稳定性关系
引用本文:王强,曹伟东,章国安,陆健.极化电压与铁电场效应晶体管漏极电流的稳定性关系[J].南通大学学报(自然科学版),2012,11(2):9-13.
作者姓名:王强  曹伟东  章国安  陆健
作者单位:1. 南通大学杏林学院,江苏南通,226007
2. 南通大学电子信息学院,江苏南通,226019
基金项目:国家自然科学基金项目,南通市应用研究计划项目,南通大学杏林学院自然科学基金项目,江苏省高等学校大学生实践创新训练计划项目
摘    要:设计了具有金属/铁电体/半导体结构的铁电场效应晶体管(FFET),并对其特性进行了仿真.结果表明,当Vg=0时,Pr和Ps/Pr的值决定了漏极电流的大小.当Pr增加时,Id随之增大.当FFET饱和极化后,Ps/Pr值增加,Id增大.FFET可以在特定极化电压(Vp=1.5 V)极化后,实现漏极电流的稳定输出,减小了Ps/Pr变化对FFET器件性能的影响.该漏极电流稳定输出时的极化电压值受到矫顽场Ec的影响,且Vp随Ec的减小而降低.

关 键 词:极化电压  铁电场效应晶体管  漏极电流  仿真

Relationship Between the FFET Drain Current Stability Output and Polarization Voltage
Abstract:
Keywords:polarization voltage  ferroelectfic field effect transistor  drain current  simulation
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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