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| 径移速度对SSD谱线轮廓及成像影响 | |
| 引用本文： | 潘彩娟.径移速度对SSD谱线轮廓及成像影响[J].中国科学(G辑),2009,39(12):1786-1793. |
| 作者姓名： | 潘彩娟 |
| 作者单位： | 百色学院物理与电信工程系, 广西 533000; 中国科学技术大学天体物理中心, 合肥 230051 |
| 基金项目： | 致谢感谢中国科学技术大学袁业飞教授对本工作的指导和帮助. |
| 摘 要： | 在考虑标准薄盘流体元径移速度的情况下，推导出Kerr黑洞附近吸积盘的观测谱线流量的一般计算式．利用光子追踪法，计算不同参数条件下标准薄吸积盘的谱线轮廓，通过比较考虑径移速度和忽略径移速度两种情况下吸积盘的谱线轮廓，得出在多数情况下，径移速度对谱线流量的影响是显著的，两种情况下吸积盘流量成像图形状基本不变． |
| 关 键 词： | 标准薄盘 径移速度 Kerr度规 谱线流量 |
| 收稿时间： | 2009-06-15 |
| 修稿时间： | 2009-09-15 |
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