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| 从信息角度看电路板测试技术的发展 | |
| 引用本文： | 李晓洁,李云松,王志江.从信息角度看电路板测试技术的发展[J].河南科技,2014(24). |
| 作者姓名： | 李晓洁 李云松 王志江 |
| 作者单位： | 郑州电力高等专科学校,河南郑州,450000 |
| 摘 要： | 本文首先总结了随着现代高科技密集型电子设备的发展,传统测试技术面临的各种问题,随后分析边界扫描技术在测试电路板线路互连故障中的应用,最后总结了测试信息传输技术用于板级测试的总线标准和用于系统级测试的总线标准。 |
| 关 键 词： | 信息 测试 DFT 边界扫描 |
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