双晶体拉伸变形的原位观察分析 |
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作者单位: | 北京科技大学材料物理系 中国北京100083 |
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摘 要: | 本文用连续柱状晶纯铜加工成双晶体拉伸样品,利用背散射电子衍射技术(EBSD)对其织构进行研究,并用扫描电子显微镜(SEM)对其拉伸变形行为进行了原位观察分析,结果表明:连续柱状晶中主要是[100]丝织构,样品中晶界绝大部分都为小角晶界,滑移都穿过小角晶界,不会在晶界处形成应力集中。在变形中随着多滑移系的产生,裂纹一般在滑移系相交的应力集中处产生。
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关 键 词: | 纯铜 双晶体 拉伸变形 滑移系 |
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