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N+离子注入Ti-4Al-2V合金的表面分析研究
引用本文:邓炯,封向东,吴继红,王治国,祖小涛. N+离子注入Ti-4Al-2V合金的表面分析研究[J]. 四川大学学报(自然科学版), 2004, 41(4): 784-787
作者姓名:邓炯  封向东  吴继红  王治国  祖小涛
作者单位:四川大学物理系,成都,610064;电子科技大学物理电子学院应用物理系,成都,610054
摘    要:作者采用3×1017/cm2和8×1017cm2两种注量对Ti-4Al-2V合金样品进行了N+离子注入,N离子能量75keV,在注入过程中样品温度控制在200℃以下.对注入前后的样品进行了X射线衍射(XRD)以及光电子能谱(XPS)分析.由XRD衍射谱表明,离子注入后有新相TiN和TiO2生成.由XPS宽程扫描谱表明,注入后样品表面主要为Ti,C,N和O.对Ti2p和N1s的XPS窄程扫描谱也证明,离子注入后致使合金近表面形成了TiN和TiO2.

关 键 词:Ti-4AL-2V合金  离子注入  XRD  XPS
文章编号:0490-6756(2004)04-0784-04

XPS and XRD Investigation on N+ Ion Implantation in a Ti-4Al-2V Alloy
DENG Jiong ,FENG Xiang-dong ,WU Ji-hong ,WANG Zhi-guo ,ZU Xiao-tao. XPS and XRD Investigation on N+ Ion Implantation in a Ti-4Al-2V Alloy[J]. Journal of Sichuan University (Natural Science Edition), 2004, 41(4): 784-787
Authors:DENG Jiong   FENG Xiang-dong   WU Ji-hong   WANG Zhi-guo   ZU Xiao-tao
Affiliation:DENG Jiong 1,FENG Xiang-dong 1,WU Ji-hong 2,WANG Zhi-guo 2,ZU Xiao-tao 2
Abstract:
Keywords:Ti-4Al-2V alloy  ion implantation  XPS  XRD
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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