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| 基于外部RAM的ARM异常程序调试技术 | |
| 引用本文： | 姚茂群,叶汉能,赵武锋,颜佳宁.基于外部RAM的ARM异常程序调试技术[J].杭州师范学院学报(自然科学版),2012,11(3). |
| 作者姓名： | 姚茂群 叶汉能 赵武锋 颜佳宁 |
| 作者单位： | 1. 杭州师范大学钱江学院,浙江杭州310012;杭州师范大学信息科学与工程学院,浙江杭州310036 2. 杭州师范大学信息科学与工程学院,浙江杭州,310036 3. 浙江大学信息与电子工程学系,浙江杭州,310027 4. 浙江医学高等专科学校,浙江杭州,310053 |
| 摘 要： | 在阐述ARM中异常处理的基本思想以及基于JTAG进行调试的基本原理的基础上,详细分析了目前各种基于外部RAM的ARM异常程序调试技术的原理和特点.通过对比各种调试技术的适用性和优缺点,结合目前嵌人式系统开发过程中常用的ARM芯片和集成开发工具,提出一种新的在外部RAM中调试含有异常处理代码的ARM程序的调试技术,并通过实验验证了其有效性. |
| 关 键 词： | 异常处理 JTAG协议 外部RAM ARM体系结构 调试技术 嵌入式系统 |
Debugging Technique for ARM Exception Programs Based on External RAM |
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| YAO Mao-qun , YE Han-neng , ZHAO Wu-feng , YAN Jia-ning.Debugging Technique for ARM Exception Programs Based on External RAM[J].Journal of Hangzhou Teachers College(Natural Science),2012,11(3). | |
| Authors: | YAO Mao-qun YE Han-neng ZHAO Wu-feng YAN Jia-ning |
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| Keywords: | |
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