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0.2BiFeO3-0.8Bi4Ti3O12固熔薄膜的电性质
引用本文:刘红日. 0.2BiFeO3-0.8Bi4Ti3O12固熔薄膜的电性质[J]. 三峡大学学报(自然科学版), 2005, 27(5): 478-480
作者姓名:刘红日
作者单位:湖北师范学院,物理系,湖北,黄石,435002
摘    要:用溶胶-凝胶方法在LaNiO3包覆的Si(111)衬底上制备了BiFeO3掺杂的Bi4Ti3O12薄膜,XRD研究表明薄膜呈完全随机取向,通过BiFeO3的掺杂使Bi4Ti3O12层状钙钛矿的C轴缩短.铁电性测试的结果表明,薄膜的剩余极化强度为2.0μC/cm^2,略小于用溶胶-凝胶方法制备的纯Bi4Ti3O12薄膜的剩余极化强度.漏电流测试结果表明薄膜导电机构满足公式.

关 键 词:0.2BiFeO3-0.8Bi4Ti3O12薄膜  掺杂  漏电流
文章编号:1672-948X(2005)05-0478-03
修稿时间:2005-05-11

Electric Property of BiFeO3 Doped Bi4Ti3O12 Film Prepared by Sol-Gel Process
Liu Hongri. Electric Property of BiFeO3 Doped Bi4Ti3O12 Film Prepared by Sol-Gel Process[J]. Journal of China Three Gorges University(Natural Sciences), 2005, 27(5): 478-480
Authors:Liu Hongri
Abstract:
Keywords:0.2 BiFeO_3-0.8 Bi_4Ti_3O_(12)film  doping  leakege current
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