首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

定点DSP芯片的一种BIST结构设计与实现
引用本文:张松,魏敬和,董玲,于宗光,须文波,薛忠杰.定点DSP芯片的一种BIST结构设计与实现[J].江南大学学报(自然科学版),2006,5(5):505-508.
作者姓名:张松  魏敬和  董玲  于宗光  须文波  薛忠杰
作者单位:1. 江南大学,通信与控制工程学院,江苏,无锡,214122
2. 中国电子科技集团公司第58研究所,江苏,无锡,214035
3. 江南大学,通信与控制工程学院,江苏,无锡,214122;中国电子科技集团公司第58研究所,江苏,无锡,214035
基金项目:国防科技重点实验室项目(51433020105DZ6801)
摘    要:在内建自测试的基本原理上实现了一种有效地适用于16位定点DSP的BIST设计方案,包括内部逻辑的BIST设计和Memory的BIST设计;通过与IEEE 1149.1兼容的边界扫描技术来对BIST实现控制,并提供电路板级的测试.测试结果证明,该设计的故障覆盖率达到了98%以上,确保了DSP芯片的品质.

关 键 词:数字信号处理芯片  内建自测试  可测性设计  故障覆盖
文章编号:1671-7147(2006)05-0505-04
收稿时间:2005-05-23
修稿时间:2005-07-15

An Implementation of BIST for Fixed Point DSP Processor
ZHANG Song,WEI Jin-he,DONG Ling,YU Zong-guang,XU Wen-bo,XUE Zhong-jie.An Implementation of BIST for Fixed Point DSP Processor[J].Journal of Southern Yangtze University:Natural Science Edition,2006,5(5):505-508.
Authors:ZHANG Song  WEI Jin-he  DONG Ling  YU Zong-guang  XU Wen-bo  XUE Zhong-jie
Institution:1. Shool of Communication and Control Engineering, Southern Yangtze University, Wuxi 214122, Chinas2. China Electronics Technology Group Corporation No. 58 Research Institute, Wuxi 214035 , China
Abstract:In this paper,we describe the implementation of BIST technique,which is used to enhance the testability of a 16 bit fixed point DSP processor.In order to complete this task,we adopt the BIST technique for the internal complicate logic and for the data and program memory.We also implement the boundary scan technique to control BIST logic,and provide a board level test.The test results show that this design achieves better fault coverage and insures the quality of DSP chips.
Keywords:DSP  BIST  DFT  fault coverage
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号