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高临界电流密度外延T12Ba2CaCu2O8超导薄膜
引用本文:阎少林,朱亚平.高临界电流密度外延T12Ba2CaCu2O8超导薄膜[J].南开大学学报,1994,60(1):1-6.
作者姓名:阎少林  朱亚平
作者单位:南开大学电子科学系,南开大学物理系,南开大学能源材料化学所,南开大学测试中心
基金项目:国家高技术发展计划(863)资助
摘    要:本文用直流磁控离子溅射及后热处理工艺在(001)LaA103单晶衬底上制备的T12Ba2CaCu2O8高温超导薄膜,经X-光衍射θ-2θ和Φ扫描测试证明,薄膜是外延生长的。薄膜的超导转变温度高达108.6K。在液氮温度下,零磁场时的临界电流密度达7.6×106A/m2。薄膜具有很强的磁通钉扎能力。当垂直于膜面外加一个4特斯拉的磁场时,临界电流密度仍可保持1.1×106A/cm2。

关 键 词:直流磁控溅射,外延薄膜,临界电流密度

HIGH CRITICAL CURRENT OF EPITAXIAL T1_Ba_2CaCu_2O_8 SUPERCONDUCTING THIN FILMS
Yan Shaolin, Zhu Yaping, Yan Jie, Yang Xiaoming, Fang Lan,Si Minshan, Cao Huili, Song Qingxi, Chen Jinheng, Zhou Xingdi, Zhang Qingmin.HIGH CRITICAL CURRENT OF EPITAXIAL T1_Ba_2CaCu_2O_8 SUPERCONDUCTING THIN FILMS[J].Acta Scientiarum Naturalium University Nankaiensis,1994,60(1):1-6.
Authors:Yan Shaolin  Zhu Yaping  Yan Jie  Yang Xiaoming  Fang Lan  Si Minshan  Cao Huili  Song Qingxi  Chen Jinheng  Zhou Xingdi  Zhang Qingmin
Abstract:
Keywords:dc magnetron sputtering  epitaxial thin film  critical current density
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