Spc控制图对均值偏移监测能力的分析

在现实生产过程中过程统计控制可能因存在不同可指定起因的事件,因而产生大小不同的均值偏移,但因各种spc控制图监测均值偏移能力不一,所以我将针对各种spc控制图可监测到均值偏移的尺寸和监测灵敏度作模拟探讨。根据其特性,使各种控制图互相互补,使监测过程波动更有效。