| 浅谈集成电路的测试技术 |
| |
| 引用本文： | 谈向萍,俞云强. 浅谈集成电路的测试技术[J]. 无锡职业技术学院学报, 2006, 5(2): 67-68,88 |
| |
| 作者姓名： | 谈向萍 俞云强 |
| |
| 作者单位： | 无锡职业技术学院,江苏,无锡,214121 |
| |
| 摘 要： | 集成电路测试是保证集成电路质量、发展的关键手段。该文从集成电路测试的过程概述性地介绍了集成电路的测试技术和集成电路的自动测试系统。
|
| 关 键 词： | 集成电路测试 测试仪 自动测试系统 |
| 文章编号： | 1671-7880(2006)-06-67-02 |
| 修稿时间： | 2006-04-14 |
A Brief Comment on Technology of IC Test |
| |
| TAN Xiang-ping,YU Yun-qiang. A Brief Comment on Technology of IC Test[J]. , 2006, 5(2): 67-68,88 |
| |
| Authors: | TAN Xiang-ping YU Yun-qiang |
| |
| Abstract: | IC test is as critical key as to sure the quantity and the development of IC . A very brief summary of the process of IC test and the technology of IC test in this paper. Also the automate test system is introduced in the paper. |
| |
| Keywords: | IC test IC test measurement automated test system |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
|
