YBa_2Cu_3O_(7-x)薄膜的临界电流密度J_c(T,H) |
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作者姓名: | 崔长庚 |
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作者单位: | 中国科学院物理研究所,中国科学院物理研究所,中国科学院物理研究所,中国科学院物理研究所,中国科学院物理研究所,北京有色金属研究总院,北京有色金属研究总院 北京 100080,北京 100080,北京 100080,北京 100080,北京 100080,北京 100088,北京 100088 |
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基金项目: | 国家超导中心的资助,第三世界科学院的部分资助 |
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摘 要: | 高温超导体薄膜无论在基础研究方面还是在高温超导体的应用方面都有十分重要的意义。临界电流密度是应用的关键参数,而且影响临界电流密度的磁通钉扎机制还不清楚,因此制备高质量的薄膜,研究其临界电流密度特点,对超导薄膜的应用和对磁通钉扎机制的理解是
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关 键 词: | 超导体 薄膜 YBaCuO 临界电流 |
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