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光学轮廓仪中微位移调制方法的分析研究
作者姓名:
王菊香 李柱
摘 要:
应用PZT作为微位移驱动机构,研制的光学轮廓仪的垂直分辨率可达1nm,可实现对表面Ra从0.16μm至0.01μm的精确测量,在测试分析位移-电压动态响应特性基础上,讨论了微位移调制误差对仪器精度的影响,提出了改善响应线性度的方法,使仪器在工作频率范围内响应的线性度达到1.08%,保证了仪器的测量精度。
关 键 词:
表面粗糙度 光学轮廓仪 微位移调制
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