含AL2O3的ZrO2中的晶界相研究

用复平面阻抗分析法测量了含ＡＬ２Ｏ３的ＺｒＯ２材料的晶界电阻，并用ＥＰＭＡ，ＴＥＭ及正电子湮没技术等手段从显微组织、缺陷结构等方面分析了ＡＬ２Ｏ３含量和烧结温度对晶界电阻的影响，提出了一个新的ＡＬ２Ｏ３作用机理。用一个简化了的模型分析了晶界相对ＺｒＯ２氧传感器输出电势的影响。