牛顿环的拓展实验研究 |
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引用本文: | 尤德红.牛顿环的拓展实验研究[J].科技信息,2009(20):I0070-I0071. |
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作者姓名: | 尤德红 |
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作者单位: | 陕西理工学院; |
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摘 要: | 牛顿环实验是研究等厚干涉现象,在测量和光学加工技术上有重要应用。实验教学中可以考虑扩展到如检验光学元件的球面度和材料表面的平整度光洁度,精确测量微小长度和厚度,测量液体折射率以及演示光的偏振性的研究。同时,在半导体技术中可测量硅片上氧化层的厚度等。实验推广到上述几方面,既帮助学生深刻理解基本理论,又扩大了牛顿环的教学与技术应用范围。
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关 键 词: | 牛顿环 实验拓展 厚干涉现象 |
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