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电渗析法制备硅溶胶过程中阳离子膜浓差极化行为的研究
引用本文:刘红梅. 电渗析法制备硅溶胶过程中阳离子膜浓差极化行为的研究[J]. 北京联合大学学报(自然科学版), 2001, 15(4): 70-73
作者姓名:刘红梅
作者单位:北京联合大学,化学工程学院,北京,100023
摘    要:首先给出了阳离子交换膜浓差极化物理模型 ,然后利用该模型分析了电渗析制备硅溶胶过程中Um -J曲线的特性 ,阐明了利用Um -J曲线确定浓差极化电流密度的理论依据 ,阐述了Um -J曲线上两个拐点的理化本质 ,其中的拐点 2所对应的电流密度是在该实验条件下(XSiO2 =4% ,θ=5 0℃ ,cNa+=0 1 1 89mol·L-1)的极限电流密度 ,并根据Jlim 和cNa+的关系 ,计算出电渗析法制备硅溶胶过程中的膜边界层厚度δ为 7 6 8× 1 0 -6m ,同时得出了电渗析装置应在极限电流密度下运行这一结论。

关 键 词:电渗析 硅溶胶 浓差极化 极限电流密度
文章编号:1005-0310(2001)04-0070-04
修稿时间:2001-04-20

Study on the Concentration Polarization of Cation-exchange Membrane in the Process Producing Silica Sols by Electrodialysis
LIU Hong-mei. Study on the Concentration Polarization of Cation-exchange Membrane in the Process Producing Silica Sols by Electrodialysis[J]. Journal of Beijing Union University, 2001, 15(4): 70-73
Authors:LIU Hong-mei
Abstract:
Keywords:electrodialysis  silica sol  concentration polarization  limiting current density
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