双通道光栅干涉仪用于一般运动状态的测量

本文提出了一种新的双通道光栅干涉仪,可用于一般运动状态的测量,即可同时测量物体的位移和速度。推导了光栅干涉仪条纹形成的一般公式,分析了条纹形成的高级近似下的特性,给出了适用于一般运动物体的测量方法和测量关系,并对双通道光栅干涉仪可能的应用作了一些探讨。