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焦散线法应用的进一步研究及KⅡ测定
引用本文:姚建初.焦散线法应用的进一步研究及KⅡ测定[J].华中科技大学学报(自然科学版),2002,30(6):4-6.
作者姓名:姚建初
作者单位:华中科技大学机械科学与工程学院
摘    要:结合Ⅱ型裂纹厚试样的焦散线图像分析及KⅡ的测定,提出了焦散线法与三维广弹应力冻结技术相结合的方法,并说明其技术难点以及有关实验方案,为应用焦散线法分析求解具有应力奇异性的三维问题提供了基础。

关 键 词:焦散线法  断裂力学  应力解冻  Ⅱ型裂纹  应力强度因子
文章编号:1671-4512(2002)06-0004-03
修稿时间:2001年12月20

Method of caustics for 3D engineering problems
Yao Jianchu Assoc. Prof., College of Mech. Sci. & Eng.,Huazhong Univ. of Sci. & Tech.,Wuhan ,China..Method of caustics for 3D engineering problems[J].JOURNAL OF HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY.NATURE SCIENCE,2002,30(6):4-6.
Authors:Yao Jianchu Assoc Prof  College of Mech Sci & Eng  Huazhong Univ of Sci & Tech  Wuhan  China
Institution:Yao Jianchu Assoc. Prof., College of Mech. Sci. & Eng.,Huazhong Univ. of Sci. & Tech.,Wuhan 430074,China.
Abstract:
Keywords:
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