首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

薄层树脂相吸光光度法测定化学试剂中痕量铁
引用本文:吕明,崔运成,张斌.薄层树脂相吸光光度法测定化学试剂中痕量铁[J].松辽学刊,1999(1):55-57.
作者姓名:吕明  崔运成  张斌
作者单位:四平师范学,四平商校
摘    要:本文利用薄层树脂相通过光度测测定痕量铁.铁离子在pH=1.30~1.55的盐酸介质中与乙酰丙酮形成稳定的有色络合物,将其富集在H+型(732#)阳离子交换树脂上,通过制作成薄层直接测定.本法操作简便,装皿容易,选择性好,用于试剂中痕量铁的测定,结果满意

关 键 词:薄层树脂相光度法    痕量
修稿时间:1998年8月22日

TEH THIN-LAYER RESIN-PHASESPECTROPHOTOMETRY DETERMINATION OF TRACES IRON IN REAGENTS
Lu Min,Cui Yuncheng,Zhang Bin.TEH THIN-LAYER RESIN-PHASESPECTROPHOTOMETRY DETERMINATION OF TRACES IRON IN REAGENTS[J].Songliao Journal (Natural Science Edition),1999(1):55-57.
Authors:Lu Min  Cui Yuncheng  Zhang Bin
Abstract:
Keywords:thin layen resin phase spectrophoto metrg  inon  traces
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号